MetroGrapher
型號:EM100/EM200S專用
特點介紹 Features
 
 MetroloGrapher  形貌描繪家(原電鏡操作軟體)
 
簡易直覺的電鏡操作控制軟體
繁簡英三語系 可切換
含量測工具組 (距離/角度/面積/剖面線)
含影像強化功能 (濾波/套色/亮度對比)
最佳化BIF檔案格式 支援批次匯出一般圖檔格式
附帶體驗版進階功能
-手動掃描大圖拼接
-簡易粒徑分析(最長軸長/面積)

 

Off Line影像調整 獨立BIF格式 完整保留原始數據 離線影像強化/後置分析
可離線分析之量測功能 BIF格式保存數據資訊 可適用操作軟體 重複再分析
Line Profile輔助量測 藉由影像灰階值剖面線 輔助選取特徵邊緣 避免平面拉取線段誤差
簡易粒徑分析 領先標配基礎粒徑自動量測 快速取得球體/微結構/懸浮顆粒的軸長面積之平均數據

 
規格 Specification
MetroGrapher
型號:EM100/EM200S專用
特點介紹 Features
 
 MetroloGrapher  形貌描繪家(原電鏡操作軟體)
 
簡易直覺的電鏡操作控制軟體
繁簡英三語系 可切換
含量測工具組 (距離/角度/面積/剖面線)
含影像強化功能 (濾波/套色/亮度對比)
最佳化BIF檔案格式 支援批次匯出一般圖檔格式
附帶體驗版進階功能
-手動掃描大圖拼接
-簡易粒徑分析(最長軸長/面積)

 

Off Line影像調整 獨立BIF格式 完整保留原始數據 離線影像強化/後置分析
可離線分析之量測功能 BIF格式保存數據資訊 可適用操作軟體 重複再分析
Line Profile輔助量測 藉由影像灰階值剖面線 輔助選取特徵邊緣 避免平面拉取線段誤差
簡易粒徑分析 領先標配基礎粒徑自動量測 快速取得球體/微結構/懸浮顆粒的軸長面積之平均數據

 
規格 Specification
 

  ►offline影像調整  離線影像強化/後置分析​​​​

 

   ►可離線分析之量測功能 重複再分析

 

  ►Line Profile輔助量測  

 

  ►簡易粒徑分析 基礎粒徑自動量測

 
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